下列何者為電子撞擊（ electron impact, EI ）游離法最常用的加速電壓？

本題觀念：

電子撞擊游離法 (Electron Impact Ionization, EI) 本題考查質譜儀 (Mass Spectrometry, MS) 中最經典且常用的硬游離技術——電子撞擊法 (EI) 的操作參數。EI 是利用加熱燈絲產生電子束，並透過加速電壓給予電子動能，使其撞擊氣態檢品分子造成游離。選擇適當的電子能量對於圖譜的靈敏度 (Sensitivity)、重現性 (Reproducibility) 以及碎片化程度 (Fragmentation) 至關重要。

選項分析

• A. 20 eV：錯誤。

  • 20 eV 雖然高於大多數有機分子的游離能 (約 7-15 eV)，可以產生游離，但在此能量下，游離截面積 (Ionization cross-section) 較小，產生的離子數量少，導致靈敏度很差。
  • 但在某些特殊情況下（稱為 Low-voltage EI），為了減少碎片產生以觀察分子離子峰 (Molecular ion peak, $M^+$)，操作者可能會刻意調降至 20-25 eV，但這並非「最常用」的標準設定。

• B. 45 eV：錯誤。

  • 此數值介於低能量與標準能量之間，並非通用的標準設定。在此電壓下，質譜

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