質譜分析之電子撞擊法（ electron impact ）常用之游離能量為多少eV？

本題觀念：

電子撞擊法 (Electron Impact, EI) 電子撞擊法（現多稱電子游離法 Electron Ionization）是質譜分析中最經典且廣泛使用的離子化技術，主要用於氣相層析質譜儀 (GC-MS)。其原理是利用加熱燈絲產生高能電子束，撞擊氣態樣品分子，使其失去電子而形成帶正電的分子離子 (Molecular ion, $M^{+\bullet}$)。由於此法能量較高，通常會導致分子進一步斷裂成碎片離子 (Fragment ions)，這些碎片提供了豐富的結構訊息，有如分子的「指紋」。

選項分析

• A. 30 eV：此能量略高於有機分子的游離電位（通常約 7-15 eV），雖能產生游離，但游離效率較低，且在此能量區間內，碎片與離子強度對電子能量的變化非常敏感，導致圖譜重現性不佳，不利於標準化比對。
• B. 50 eV：雖然比 30 eV 高，但尚未達到游離截面積 (Ionization cross-section) 的最大值高原區，並非通用的標準設定。
• C. 70 eV：這是正確答案。
  • 最大游離效率：實驗顯示，對於大多數有機分子，當電子能量約為 70 eV 時，其德布羅意波長 (de Broglie wavelength) 與有機分子的鍵長相近，能量轉移效率最高

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